简要说明：AD112/113/116/118系列雷达物位计无盲区，高精度 两线制或四线制技术。不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响安装简便，牢固耐用，免维护是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳

非接触式与连续测量的脉冲型雷达物位计最大测量距离70m

雷达物位计介绍：

分类介绍
型号	AD112	AD112	AD113
应用	过程条件简单的液体	过程条件复杂或 腐蚀性较强的液体	存储容器或过程复杂 的容器液体
最大量程	0-20米	0-30米	0-35米
测量精度	±10mm	法兰	法兰
过程连接	螺纹G11/2A,法兰	PTFE,316L+PTFE	316L/304S不锈钢
天线材料	PTFE/PVDF/PP	-40-200℃	-40-350℃
过程温度	-40-150℃	-100-6000KPa	-100-6000KPa
过程压力	-100-500KPa	-100-6000KPa	-100-6000KPa
频率范围	26GHz	26GHz	26GHz
信号输出	两线制/四线制 4-20mA/HART,48总线	两线制/四线制 4-20mA/HART,485总线	两线制/四线制 4-20mA/HART,485总线
型号	AD112	AD112	AD113
最大量程	0-20米	0-25米	0-35米
测量精度	±10mm	±3mm	±3mm
过程连接	螺纹G11/2A,法兰	法兰	法兰
天线材料	PTFE/PVDF/PP	PTFE,316L+PTFE	316L/304S不锈
过程温度	-40-150℃	-40-300℃	-40-350℃
过程压力	-100-500KPa	6.3GHz	6.3GHz
频率范围	26GHz	26GHz	26GHz
信号输出	两线制/四线制 4-20mA/HART,485总线	两线制/四线制   4-20mA/HART,485总线	两线制/四线制 4-20mA/HART,485总线
型号	AD116
应用	存储容器或过程仓储的固体粉料、颗粒料位
最大量程	0-70米
测量精度	±3mm
过程连接	法兰
天线材料	316L/304S不锈钢
过程温度	-40-400℃,特殊可达1300℃
过程压力	-100-3000KPa
频率范围	6.3GHz
信号输出	两线制/四线制4-20mA/HART,485总线

雷达物位计的特性与优势：

1	无盲区，高精度
2	两线制或四线制技术，是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
3	不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响
4	安装简便，牢固耐用，免维护
5	HART或PROFIBUS-PA通信协议及基金会现场总线协议，标定简便、通过数字液晶显示轻松实  现现场标定操作，通过软件GDPF实现简单的组态设定和编程测量灵敏，刷新速度快。
6	测量灵敏，刷新速度快。
7	适用于高温工况，高达200℃过程温度，当采用高温延长天线时可达350℃

雷达物位计的测量原理

雷达物位计天线发出微波脉冲，在被测物料表面产生反射，并被雷达系统所接收。

雷达物位计的输入

     天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物

料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D

与脉冲的时间行程T成正比：D=C×T/2 ，其中C为光速因空罐的距离E已知，则物位L为：L=E-D

雷达物位计的输出

     通过输入空罐高度E（=零点），满罐高度F（=满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使

仪表适应测量环境。对应于4－20mA输出。

雷达物位计的测量盲区  

盲区（BD）是从测量参考点到最高物位时的介质表面的最小距离

盲区	天线长度	天线长度	天线长度
从法兰开始	（参见尺寸图）	（参见尺寸图）	（参见尺寸图）

雷达物位计的测量条件

1	测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低  于此点时无法进行测量。
2	若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高  度为C 的位置。
3	理论上测量达到天线尖端的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距  离天线的尖端至少50mm。
4	对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。
5	最小测量范围与天线有关。
6	随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。

测量范围超出的动作

当测量范围超出时，仪表输的出为22mA电流。

雷达物位计的电气连接

两线制

HART通信的最小负载：250Ω

电缆入口：M20×1.5，内设极性反接，射频干扰，及尖峰过压的保护电路。