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K1SM探伤仪探头美国GE放大图片

产品价格:面议   元(人民币)
上架日期:2021年3月23日
产地:本地
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深圳市泰立仪器仪表有限公司

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  详细说明  
品牌:美国GE产地:本地
价格:面议人民币/只规格:完善

简要说明:美国GE牌的K1SM探伤仪探头美国GE产品:估价:面议,规格:完善,产品系列编号:齐全

详细介绍:

品牌:美国GE 型号:K1SM 加工定制:否
类型:超声波 测量范围:10 分辨率:20*22
尺寸:19*15 mm 重量:0.05 kg


K1SM探伤仪探头美国GE

美国GE探伤仪探头 K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探头):用于测试这样一类的中等尺寸和大尺寸物体,它们的材料会通过声波的散射作用(例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合成材料等制成的物体)而导致高的声波衰减,它们也可以用于测试材料的物理特性(例如建筑材料、岩芯和半导体材料的特性)。


特性:在粗糙表面上具有稳定的耦合性
注释:
粗体=首选探头,带简短 注释说明
O= 提供探头数据表
O= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。
类型
[订购号码]
D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 声束形状
编号
备注 草图
特性带宽25%
B0.5SL
B1SL
B2SL
34
34
30
0.5
1
2
175-480
80-1600
40-3100
23
46
71
10
8
5
0.5-34
1-34
2-30
类型1
B1S
B2S
B4S
B5S
24
24
24
24
1
2
4
5
70-1200
23-3000
15-3000
15-6000
23
45
88
110
6
5
3
3
1-24
2-24
4-24
5-24
提供连接器顶端类型B.S-O 类型2
MB2S
MB4S
MB5S
10
10
10
2
4
5
30-800
15-1500
10-2000
8
16
20
4
3
3
2-10
4-10
5-10
提供连接器顶端类型MBS-O 类型3
特性带宽:60%
K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM
34
34
28
28
0.5
1
0.5
1
100-250
50-1350
80-145
40-780
23
46
15
31
10
6
8
6
0.5-34
1-34
0.5-28
1-28
具有强声波衰减的材料试的粗粒探头 类型1
类型1
类型2
类型2
合成单元,特性带宽:80%
K1SC
K2SC
MK1S
MK2S
MK4S
24
24
10
10
10
1
2
1
2
4
35-1200
18-3000
30-350
15-700
10-1300
23
45
4
8
16
6
3
6
3
2
1-24
2-24
1-10
2-10
4-10
粗粒探头 特别适合于拉链技术中塑料的测试 类型2
类型3
可按用户需求提供其它衰减值(带宽)、连接插座、频率或单元尺寸的探头。
附件描述 类型 备注
保护膜
1=10片)
延迟线或延迟楔
探头电缆(2米)耦合剂
DGS标尺
ES57
ES45
ES24
承索
PKLL2
MPKL2
ZG-F
用于B..SL;K..S
用于B..S;K..SM;K..SC
用于MB..S;MK..S
如用于高温下的测试
用于B..K..
用于MB..SMK..S
36
35




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