| 详细介绍：
供应万濠Rational测量型金相显微镜MTM-2010M
产品用途
测量型金相显微镜是一种兼顾影像、目视与纳米高度测量多用的高精度、高效率测量仪器。该产品具有电视成像与目视光学两套瞄准系统，可人工观察金属表面的金相组织结构，是集光、机、电、算、影像于一体的显微镜。该产品以二维测量为主，也可作三维辅助测量，广泛应用于电子组件、精密模具、塑料、PCB加工方面、镀膜厚度、手机玻璃等工业领域。
产品特点
1.X、Y、Z轴0.5μm分辨率；
2.可选配白光纳米检测模组；
3.Z轴粗调/微调旋钮；
4.同轴表面光/底光测量；
5.内建偏光量测光学模块；
6.可量测透明材质纳米级高度差
技术规格参数：
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型号
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MTM-1510M
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MTM-2010M
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工作台
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金属台尺寸（mm）
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210*160
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260*160
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玻璃台尺寸（mm）
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354*228
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404*228
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X,Y运动行程（mm）
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150*100
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200*100
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X,Y,Z分辨率
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0.5μm
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X,Y坐标示值误差
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E1XY=（2.5+L/100）
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外形尺寸
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590*560*850
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590*560*850
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仪器重量（kg）
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100
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110
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影像系统
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彩色1/2"CCD摄像机；640*480像素；结合测量软件
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显微镜系统
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目镜：10倍
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滤光片：红，蓝，绿，白
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测量模式：反射，透射，偏光
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5孔物镜转换器
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物镜放大倍率误差
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包括畸变在内的放大率误差≤0.008%
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总放大倍数
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50X——500X
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照明系统
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透射照明光源：白光LED，亮度可调
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同轴照明光源：卤素灯，亮度可调
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物镜
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倍率
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5X
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10X
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20X
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50X
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工作距离（mm）
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26.1
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20.2
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8.8
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3.68
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高度量测模块（选配件）
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光干涉高度量测模块（M10-CA），高度量测分辨力0.5μm（选配）
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倍率：10X，工作距离5mm，光学分辨力2μm
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电源功耗
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110V—220V 50/60Hz <60W
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单层透明膜厚度测量模式
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高精度测量模式
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快速测量模式
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厚度测量范围
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100nm-300nm
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300nm-500nm
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500nm-3μm
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3μm-20μm
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分辨力
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5nm
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5nm
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7.5nm
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0.1μm
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