| 详细介绍：
SWT-7200III涂层测厚仪
SWT-7000III SWT-7100III SWT-7200III
FN-325 FE-2.5 FE-2.5L FE-2.5LWA FE-0.6PEN FE-10 FE-20
NFE-2.0 NFE-2.0L NFE-06 NFE-8
SWT-7000III系列+FN325探头：可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。
新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品（7000、8000、9000）可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。
SWT系列探头可互换。
◆ 两用型 : FN-325
◆ 铁材用 : Fe 系列
◆ 非铁材 : NFe 系列
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探测头型号
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FN-325
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测量方式
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电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别）
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测量范围
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铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm
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表示分辨率
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1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通）
0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通）
0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通）
0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材）
0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材）
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测量精度
（平滑表面）
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0～100μm：:1μm（铁·非铁共通）
或者是指示值的±2%以内
101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材）
101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材）
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探测部
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1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
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选择产品
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V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）
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附属品
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标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用）
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测量对象
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铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、
电镀（电解镍除外）等
非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
一般较普遍的测量物用
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SWT-7000Ⅲ系列机型
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机型
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SWT-7000Ⅲ
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SWT-7100Ⅲ
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SWT-7200Ⅲ
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测量范围
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连接的探测头不同测量范围也不同。
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显示方式
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液晶显示LCD（数据·提示信息）、背光灯
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检量线校正
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2点校正方式（零校正、标准校正）
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检量线存储
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铁、非铁各1根
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10根
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测量值存储
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—
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20,000点
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数据传送
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—
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USB
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USB
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统计功能
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—
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—
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内藏
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附加功能
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●背光灯 ●测量模式的切换（普通／连续） ●检量线、校正值的删除
●自动关机功能（约3分以上不操作时，机器会自动关机） ●分辨率的切换
●上下限值的设定（SWT-7200Ⅲ）
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电源
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单3电池 ×2
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单3电池 ×2 专用电源线
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使用温度
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0～40C°（不结露）
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机体尺寸·重量
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72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g
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附属品
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干电池、收纳袋子
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干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件（CD）
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追加产品
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铁材金属用探测头（Fe）、非铁材金属用探测头（NFe）
铁·非铁材用探测头（FN-325）
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SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（1）（Fe）
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型号
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Fe-2.5/2.5L
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Fe-2.5LwA
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Fe-0.6Pem
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测量方式
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电磁感应式
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测量范围
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0～2.50mm
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0～600μm
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表示分解率
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1μm：0～999μm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
0.01mm:1.00～2.50mm
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1μm：0～600μm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
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测量精度
（平滑面）
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0～100μm:±1μm
又或者时显示值的±2%以内
101μm～2.50mm：±2%
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0～100μm:±1μm
又或者时显示值的±2%以内
101μm～600μm：±2%
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探测部
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1点定压接触式
V形口套头
2.5：φ13×48mm
2.5L:18×23×67mm
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1点定压接触式
测量部：约20×57mm
全长：约550～ 1.550mm
（伸缩式）
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1点定压接触式
Φ5.6×94mm
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选择产品
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V形套头/—
（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）
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—
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—
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附属品
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标准校正片
试验用零校正板
（铁用）
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标准校正片
试验用零校正板（铁用）
收纳袋子
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标准校正片
试验用零校正板
（铁用）
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测量对象
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铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层（电解镍的电镀层除外）等等
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铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。
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铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。
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SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（2）（Fe）
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型号
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Fe-10
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Fe-20
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测量方式
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电磁感应式
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测量范围
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0～10mm
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0～20mm
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表示分解率
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1μm：0～999μm
0.01mm:1～10mm
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1μm：0～999μm
0.01mm:1～5mm
0.1mm:5～20mm
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测量精度
（平滑面）
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0～3mm：±（5μm＋显示值的3%）
3.01mm：显示值的±3%
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探测部
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1点定压接触式
V形口套头
φ18×47mm
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1点定压接触式
V形口套头
φ35×59mm
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选择产品
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—
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—
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附属品
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标准校正片、试验用零校正板（铁用）
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测量对象
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铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用
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铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用
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探测头要根据需要另外购买。
SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头（NFe）
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型号
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NFe-2.0/NFe-2.0L
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NFe-06
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NFe-8
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测量方式
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涡电流式
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测量范围
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0～2.00mm
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0～600μm
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0～8mm
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表示分解率
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1μm：0～999μm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
0.01mm:1.00～2.00mm
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1μm：0～600μm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
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1μm：0～999μm
0.01mm：1～8mm
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测量精度
（平滑表面）
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0～100μm:±1μm
又或者时显示值的
±2%以内
101μm～2.00mm：
±2%以内
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0～100μm:±1μm
又或者时显示值的
±2%以内
101μm～600μm：
±2%以内
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0～100μm:±1μm
±（±1μm＋显示值的±2%）
101μm～8mm：
±2%以内
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探测部
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1点定压接触式
V形口套头
2.0：φ13×47mm
2.0L：18×23×67mm
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1点定压接触式
V形口套头
φ11×48mm
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1点定压接触式
V形口套头
φ35×61mm
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选择产品
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V形套头/-
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－
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－
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附属品
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标准校正片、试验用零校正板（非铁用）
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测量对象
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铝、铜等非磁性金属底材
上的绝缘性皮膜等一般普
通测量物用。
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铝、铜等非磁性金属底
材上的绝缘性皮膜等
细小的圆棒、细管、小
物件等的高安定性用。
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铝、铜等非磁性金属
底材上的绝缘性皮膜等
比较厚的测量物用。
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探测头要根据需要另外购买。
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