详细介绍:
CMI760便携式铜箔测厚仪牛津库存特价
CMI760可用于测量表面铜和孔内镀铜厚度。
这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻
和电涡流两种方法来达到对表面铜和孔内镀铜
厚度准确和精确的测量。
笃挚仪器(上海)有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。
描述:
CMI760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展
性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜
和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用
需求。
CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
SRP-4探头:SRP系列探头应用先进的微电阻测试技术。测
量时,通过厚度值与电阻值的函数关系准确可靠地得出厚
度值,而不受绝缘板层厚度或印刷电路板背面铜层影响。
可由用户自行替换探针的SRP-4探头为牛津仪器专利产
品。耗损的探针能在现场迅速、简便地更换,将停机时间
缩至最短。更换探针模块远比更换整个探头经济。
CMI760的标准配置中包含一个替换用探针模块。另行订
购的探针模块以三个为一组。另外,系绳式的SRP-4探头
采用结实耐用的连接线和更小的测量覆盖区令使用更为
方便。
CMI760配置包括:
(面铜应用):
CMI760主机
SRP-4探头
SRP-4探头替换用探针模块(1个)
NIST认证的校验用标准片(2个)
可选配件
•
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•
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(穿孔内铜应用)
ETP探头
TRP探头
SRG软件
主机技术规格:
存储量:8000 字节,非易失性
尺寸:11 1/2 英寸(长)× 10 1/2 英寸(宽)×
5 1/2 英寸(高)(29.21× 26.67× 13.97 厘
米)
重量:6 磅(2.79 千克)
单位:通过一个按键实现英制和公制的自
动转换
单位转换:可选择mils 、μm、μin、
mm、in或%作为显示单位
接口:RS-232 串行接口,波特率可调,
用于下载至打印机或计算机
显示:带背光和宽视角的大LCD液晶显示
屏,480(H) × 32(V) 象素
统计显示:测量个数,标准差,平均值,
最大值,最小值
统计报告(需配置串行打印机或PC电脑下
载):存储位置,测量个数,铜箔类型,线
形铜线宽,测量日期/ 时间,平均值,标
准差,方差百分比,准确度,最高值,最
低值,值域,CPK 值,单个读数,时间
戳,直方图
图表:直方图,趋势图,X-R 图
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