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椭偏仪利用摩擦或光诱导技术成功地实现了定向PI层的超精密偏振测量。研制了薄膜测量系统，高铬（<百万：1）测量系统，轻轴弯曲测量系统（测量与偏光片补偿板、粘结复合板组合的多组合面板的微偏振测量器。

详情介绍

椭偏仪

 

　北京朗铭润德光电科技有限公司是一家在半导体微电子、高精密光学镀膜领域，光伏、光热、锂电池等新能源领域以及窗膜、汽车膜、柔性电路板等行业提供专业相关工艺设备的代理公司。
 　　从2006年起与德国著名微电子设备专业厂家FHR公司开始合作，并于2008年成为其中国区的代理机构。通过我们的合作，使 FHR的产品逐渐进入中国，并成为国内镀膜设备的供货商。

 

        艾利普所科技公司是2000年7月成立于韩国的一家薄膜结构分析和性能测试公司，其主要致力于薄膜的偏振分析。是由世界上著名的椭偏法专家---Kim Sang-Youl—Ajou大学的教授创立。

 

【主要产品】

Single Wavelength Ellipsometer, SWE   单波长

Spectroscopic Ellipsometer, SE  光谱

偏振器

综合性椭偏仪

分光计

探针式光谱反射计(m-FFT)

迟缓(R_in, R_th, Zero Retardation )分析设备

 

        艾利普所科技不断发展和提供的光学设备能够适用于很多领域的薄膜厚度测量，比如从亚埃级到数百微米厚的薄膜，MgO 模式, OLED, LED, 太阳能电池(Solar Cell)等。

利用摩擦或光诱导技术成功地实现了定向PI层的超精密偏振测量。研制了薄膜测量系统，高铬（<百万：1）测量系统，轻轴弯曲测量系统（测量与偏光片补偿板、粘结复合板组合的多组合面板的微偏振测量器 ）

        通过不断的研究，艾利普所科技已成为光学薄膜分析设备的专业制造商。