QFN240.35老化座芯片测试座ICburninsocket助听硅麦测试连接器
QFN240.35老化座芯片测试座ICburninsocket助听硅麦测试连接器
产品价格:¥244.00(人民币)
  • 规格:QFN24(3*3)-0.35-0092TGH
  • 发货地:广东深圳
  • 品牌:
  • 最小起订量:1
  • 免费会员
    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:深圳市鸿怡电子有限公司

    联系人:William(先生)

    联系手机:

    固定电话:

    企业邮箱:huang@hydz999.com

    联系地址:

    邮编:

    联系我时,请说是在五金机电网上看到的,谢谢!

    商品详情
      产品参数
      型号QFN24(3*3)-0.35-0092TGH
      封装/规格插件
      类型DIP
      间距0.35
      总针脚数24 1
      圆孔/方孔圆孔
      触头镀层
      工作温度范围-45~155℃
      包装盒装
      认证机构CE
      最小包装量1
      数量1
      封装QFN
      批号以出货为准
      品牌ANDK

      QFN36-0.35-3*3-0091TGH芯片测试座
      1.引脚:36 signal Pin 1 GND;
      2.间距:0.35mm
      3.尺寸:4*4mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating:1A Max.






    在线询盘/留言
  • 0571-87774297