CMI257 — 通用型（绳型探针）英国牛津Oxford

CMI257多功能测厚仪涂层厚度测量仪，主要用于需要快速、简易、精确和重复测量的专业质保人员。

CMI257独有绳型探针，能更好的用于多种不同测量位置的作业。且该仪器拥有集成探针，也能获得相同性能。
CMI257独有的绳型探针，可以在难以到达的位置进行测量。 
产品特点： 
→ 数据统计功能 
→ 基体归零功能 
→ 工厂校准 
→ 自动基底探测 
→ 集成或外置的探针设计 
→ IP52防尘防水保护 
常规型 ：
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。 
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。 
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。 
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

经营范围：
销售机电产品、机械设备、自动化设备、环保设备、电线电缆、汽摩配件、建材、金属材料及制品、五金交电、仪器仪表、通讯产品及器材、办公用品、计算机软硬件及辅助设备（除计算机信息系统安全专用产品）、橡塑制品，商务信息咨询，投资管理，机电设备维修，计算机、机械设备专业领域内的技术咨询、技术服务。