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双功能DualScope FMP20功能
• 可以配合所有基于磁感应法和涡流法的探头使用 • 自动识别探头
• 自动识别底材 (FMP20)
• 仪器操作界面友好
• USB接口可以连接计算机
• 240x160像素高对比度大尺寸显示屏
• 开机后即可测量
• 插入探头即可测量
• 测量完成后声音提示
• 通过简单的零位修正就能适应底材形状(归一化)
• 校准简便(使用一到两片箔片)
• 针对罕见材料或者形状复杂的产品设置主校准模式 (需配合主校准标准片使用)
• 可以调节仪器自动关机时间和连续使用时间
• 仪器状态显示(例如:电量低时出现的警告信息)
• 键盘锁/功能限制模式
• 滑盖保护键盘
• 多语言显示
• 测量结果的单位可在μm和mils之间切换
应用程式存储
• 可以储存一个应用程式,包括校准信息。
统计和计算
• 显示统计数据,例如:平均值、标准偏差、 最大和最小值、读数范围。
测量方式
• 单次测量 • 用“连续测量”模式测量可以对样品表面进行 连续扫描。
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便携式测量仪器具有集成或可互换的探头,用于直接在工件上测量涂层厚度。
DualScope FMP20该通用型号为磁感应和涡流方式提供自动的基板材料识别功能。 这两个单元都能够测量铁/钢,非铁磁金属和非导电载体材料等众多涂层。 Dualscope FMP40型号的附加功能包括多达20,000个读数的扩展内存,多达100个可校准应用程序,块的日期和时间戳,带有高斯图形的直方图的图形显示以及自动基材识别功能。
•外部按键触发测量采集
•超过公差限制时的视觉和视觉警告
•选项蓝牙或COM附加可用于默认USB接口
测量应用记忆体: -
•多达100个测量应用的应用存储器,包括 校准
•内存多达20,000张读数
•将读数分配到4,000个块
•块的日期和时间戳
•测量应用的通用归一化/校准
•通过标准测试测量验证校正校准、
该手持设备用于测量所有金属上的涂层厚度,即非破坏性。 该仪器具有许多功能,包括自动基板材料识别和图形测量显示。后者作为具有高斯贝尔曲线的直方图。 它还提供过程容限限制的输入选项和相关过程能力指标cp和cpk的计算。 如果超过公差设定限制,则可以给出声音和视觉警告。
该器件配有多种探头。 它还具有FISCHER DataCenter软件,便于传输和归档测量数据。 它可以打印报告并提供全面的统计和图形评估。 该设备适用于汽车工业,油漆制造加工和实验室等行业。 它也可以用于测试机构和航空业。
测量策略与评估:
•根据IMO PSPC,SSPC-PA2,QUALANOD和QUALICOAT存储的测量规格
•相关多点测量的矩阵测量模式
•测量数据的平均值
•通过面积测量进行测量采集
典型应用:
DELTASCOPE®用于钢和铁的涂层
ISOSCOPE®用于铝和其他有色金属涂料
DUALSCOPE®具有自动基板识别和两种测量技术(磁感应和涡流)的组合; DUALSCOPE可以测量铁/钢或非铁磁金属和非导电基材上的各种涂层
有色金属,铁或钢的微米范围内的涂层
由有色金属制成的厚涂层或钢板上的保护涂层