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- 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。
- 10个自定义双晶探头设置。
- 校准过程中用于双晶探头的优化默认增益。
- 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
- 校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。
- 用于测量带有漆层和涂层表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。
- 高温测量：温度可高达500°C。
- 锅炉管件和内部氧化层测量（可选项），使用M2017或M2091单晶探头。
- EMAT探头（E110-SB），用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量
38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量
38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中最常使用的是双晶探头。
38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有极佳的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
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测量 |
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双晶探头测量模式 |
从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。 |
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自动回波到回波（可选） |
在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
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穿透涂层测量 （可选） |
利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） |
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单晶探头测量模式（可选） |
模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。 |
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厚度范围 |
0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量全的范围需要使用单晶选项） |
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材料声速范围 |
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
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分辨率（可选择） |
低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
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探头频率范围
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标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
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