ic测试座能容纳任何小于27mm的封装器件
ic测试座能容纳任何小于27mm的封装器件
产品价格:(人民币)
  • 规格:完善
  • 发货地:本地至全国
  • 品牌:
  • 最小起订量:1
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    会员级别:试用会员
    认证类型:未认证
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    认证信息:未认证

    商铺名称:深圳市金誉半导体有限公司

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    商品详情
      品牌3m
      型号iso90001
      加工定制是
      名称ic测试座
      规格塑造ic测试座组件: ul 94v-0,聚醚醚酮和/或聚醚酰亚胺 1 db带宽: 10.1 ghz(
      适用范围都可
      展开
      ic测试座能容纳任何小于27mm的封装器件
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      联业和独特的通用ic测试座系统可以很便捷地针对任何封装、任何大于0.2mm的间距对ic测试座进行配置,并且很少或没有模具费用或额外的交货时间。
      用于csp, μbga, bump-array, qfn, qfp, mlf, dfn, ssop, tssop, tsop, sop, soic, lga, lcc, plcc, to和任何smt封装样式的测试和老化。也可以兼容pga封装器件。
      快速、简单的测试探针更换系统:成套测试探针可以移除和新的成套测试探针(插入器)可以快速轻松地插入使用。旧的探针可以返回工厂维修,并很快发回。
      通过压力实现贴装,不需要焊接。
      测试中的信号通路只有0.077[1.96]。
      ic测试座能容纳任何小于27mm的封装器件。
      通用规范:
      塑造ic测试座组件: ul 94v-0,聚醚醚酮和/或聚醚酰亚胺
      1 db带宽: 10.1 ghz(0.8毫米间距,大探针)
      探针电感:0.51 nh (@ 0.50 mm间距)
      接触电阻: < 40 mω
      压缩弹簧探针: 热处理,铍铜
      压缩弹簧探针电镀: 热处理,铍铜30μ min。[0.75μ]金/mil-g-45204 30μ min; [0.75μ]ni / sae ams-qq-n-290b.
      预计接触寿命: 500000次循环。
      接触力:
      :6克/ 间距0.20 –0.29毫米
      :15克/间距0.30 –0.35毫米
      :16 克 /间距0.40 –0.45毫米
      :25克/间距0.50 –0.75毫米
      :25 克/间距0.80毫米或更大
      工作温度: – 55°c至150°c。
      固件:不锈钢
      安装注意事项:
      需要四个#4 – 40螺丝(提供)和pem螺帽 (不提供) 安装。安装孔尺寸可能有所不同,取决于所选择的pem螺母
      注意:在把ic测试座从pcb板上安装或移除时,要小心,避免损坏测试探针。
      测试pcb***小直径“g”
      : 0.64(0.80 mm间距大探针)
      : 0.38(0.50 – -0.79毫米间距小探针)
      : 0.31(0.40 – -0.49毫米间距小探针)
      : 0.23(0.30 – -0.39毫米间距小探针)
      : 0.10(0.20 – -0.29毫米间距小探针)
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