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商品详情
晶圆外观自动检测设备
晶圆外观自动检测设备
晶圆外观自动检测设备适用于半导体芯片的晶粒级或晶圆级的外观检测。本机采用高性能的视觉处理软件及高精度的视觉系统，搭配多组数字光源，配备有自动上下片系统，能全自动完成对芯片多种外观缺陷的精 确检测。可取代传统人工目检检测方式，效率更高，检测一致性更好。
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