英国牛津Oxford手持式涂镀层测厚仪CMI257 — 通用型

通用仪器 (多功能测厚仪）CMI257绳型探针
CMI257多功能测厚仪为手持涂层厚度测量仪，主要用于需要快速、简易、精确和重复测量的专业质保人员。
与基础型的检测设备相比，两用型技术（磁感应与涡流）仪器具有数据统计、更高的精度和橡胶外壳的耐久性设计，且符合IP52环境保护标准。
CMI257独有绳型探针，能更好的用于多种不同测量位置的作业。且该仪器拥有集成探针，单手操作也能获得相同性能。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
常规型 
1.对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。 
2.覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。 
3.覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 
4.X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 
产品特点： 

→ 数据统计功能 

→ 基体归零功能 

→ 工厂校准 

→ 自动基底探测 

→ 集成或外置的探针设计 

→ IP52防尘防水保护 

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