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产品名称： 涂层测厚仪可选附件-探头
F1探头
F1探头是涂层测厚仪磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT270涂层测厚仪的标配探头。
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测头型号 |
F1 |
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工作原理 |
磁感应 |
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测量范围（um） |
0-1250 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1] |
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两点校准(um) |
±[(1～3)%H+1] |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
凸1.5 |
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基体最小面积的直径(mm) |
ф7 |
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最小临界厚度(mm) |
0.5 |
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探头尺寸（mm) |
ф12X47 |
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N1探头
N1探头是涡流法涂层测厚仪测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT270覆层测厚仪的标配探头。
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测头型号 |
N1 |
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工作原理 |
电涡流 |
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测量范围（um） |
0-1250(铜上镀铬0-40um) |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1.5] |
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两点校准(um) |
±[(1～3)%H+1.5] |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
3 |
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基体最小面积的直径(mm) |
ф5 |
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最小临界厚度(mm) |
0.3 |
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探头尺寸（mm) |
ф15X73 |
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F1/90探头
TT270覆层测厚仪选配F1/90探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。
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测头型号 |
F1/90 |
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工作原理 |
磁感应 |
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测量范围（um） |
0-1250 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1] |
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两点校准(um) |
±[(1～3)%H+1] |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
平直 |
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基体最小面积的直径(mm) |
ф7 |
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最小临界厚度(mm) |
0.5 |
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探头尺寸（mm) |
7.5X11X200 |
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F10探头
TT270涂镀层测厚仪选配F10探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。
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测头型号 |
F10 |
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工作原理 |
磁感应 |
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测量范围（um） |
0-10000 |
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低限分辨力(um) |
10 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+10] |
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两点校准(um) |
±[(1～3)%H+10] |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
10 |
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基体最小面积的直径(mm) |
ф40 |
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最小临界厚度(mm) |
2 |
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探头尺寸（mm) |
ф27X47 |
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F400探头
TT270涂镀层测厚仪选配F400探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更精确的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是很好的选择。
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测头型号 |
F400 |
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工作原理 |
磁感应 |
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测量范围（um） |
0-400 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1] |
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两点校准(um) |
±[(1～3)%H+0.7] |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
凸 1 |
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基体最小面积的直径(mm) |
ф3 |
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最小临界厚度(mm) |
0.2 |
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探头尺寸（mm) |
ф12X55 |
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CN02探头
TT270漆膜测厚仪选配CN02探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10- 200um之间。
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测头型号 |
CN02 |
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工作原理 |
电涡流 |
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测量范围（um） |
10-200 |
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低限分辨力(um) |
1 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1] |
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两点校准(um) |
- |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
平直 |
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基体最小面积的直径(mm) |
ф7 |
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最小临界厚度(mm) |
无限制 |
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探头尺寸（mm) |
ф16X67 |
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